1. E. M. Gershenzon, L. B. Litvak-Gorskaya, L. A. Plokhova, and T. S. Zarubina, Poluprovodn. Prib. Primen., No. 23, 3 (1970).
2. D. A. Usanov, Microwave Methods for the Measurement of Semiconductor Parameters (Saratov. Gos. Univ., Saratov, 1985) [in Russian].
3. Yu. G. Arapov and A. B. Davydov, Defektoskopiya, No. 11, 63 (1978).
4. M. N. Afsar, J. R. Birch, and R. N. Clarke, Proc. IEEE 74, 183 (1986).
5. E. Yablonovitch, T. J. Gimitter, and R. D. Meade, Phys. Rev. Lett. 67, 3380 (1991).