1. Усеинов, Р.Г. Методика расчетно-экспериментальной оценки параметров чувствительности ЭКБ к эффектам одиночных событий при воздействии нейтронов по результатам экспериментов на ТЗЧ и ВЭП / Р.Г. Усеинов, А.С. Ватуев // Радиационная стойкость электронных систем "Стойкость-2021" : сборник трудов 24-й Всероссийской научно-технической конференции : научно-технический сборник. - Лыткарино, 2021. - С. 55-56., Useinov, R.G. Metodika raschetno-eksperimental'noy ocenki parametrov chuvstvitel'nosti EKB k effektam odinochnyh sobytiy pri vozdeystvii neytronov po rezul'tatam eksperimentov na TZCh i VEP / R.G. Useinov, A.S. Vatuev // Radiacionnaya stoykost' elektronnyh sistem "Stoykost'-2021" : sbornik trudov 24-y Vserossiyskoy nauchno-tehnicheskoy konferencii : nauchno-tehnicheskiy sbornik. - Lytkarino, 2021. - S. 55-56.
2. On analysis of the electromagnetic resistance of radioelectronic devices under impulse radiation / Y.P. Lonin, A.G. Ponomaryov, V.I. Chumakov // Problems of Atomic Science and Technology. – 2018. – T. 115(3). - Pp. 45-48., On analysis of the electromagnetic resistance of radioelectronic devices under impulse radiation / Y.P. Lonin, A.G. Ponomaryov, V.I. Chumakov // Problems of Atomic Science and Technology. – 2018. – T. 115(3). - Pp. 45-48.
3. Analysis of metrological provision problems of a test stand for testing radio-electronic products for resistance to irradiation with high-energy heavy ions / A.V. Butenko, E.M. Syresin, S.I. Tyutyunnikov [et al.] // Physics of Particles and Nuclei Letters. – 2019. – T. 16(6). – Pp. 734-743. – DOI: 10.1134/S1547477119060098., Analysis of metrological provision problems of a test stand for testing radio-electronic products for resistance to irradiation with high-energy heavy ions / A.V. Butenko, E.M. Syresin, S.I. Tyutyunnikov [et al.] // Physics of Particles and Nuclei Letters. – 2019. – T. 16(6). – Pp. 734-743. – DOI: 10.1134/S1547477119060098.
4. Беляева, Т.П. Методы поддержки принятия решений в части оценки достаточности требований технического задания к микроэлектронным компонентам и возможности их реализации отечественными предприятиями электронной промышленности / Т.П. Беляева, В.К. Зольников // Политематический сетевой электронный научный журнал Кубанского государственного аграрного университета. - 2012. - № 75. - С. 431-442., Belyaeva, T.P. Metody podderzhki prinyatiya resheniy v chasti ocenki dostatochnosti trebovaniy tehnicheskogo zadaniya k mikroelektronnym komponentam i vozmozhnosti ih realizacii otechestvennymi predpriyatiyami elektronnoy promyshlennosti / T.P. Belyaeva, V.K. Zol'nikov // Politematicheskiy setevoy elektronnyy nauchnyy zhurnal Kubanskogo gosudarstvennogo agrarnogo universiteta. - 2012. - № 75. - S. 431-442.
5. Системы на кристалле (СНК) и влияние данной технологии на создание современной ЭКБ / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, М.Ю. Арзамасцев, А.Е. Гриднев // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 4. - С. 19-23. - DOI: 10.12737/2219-0767-2021-13-4-19-23., Sistemy na kristalle (SNK) i vliyanie dannoy tehnologii na sozdanie sovremennoy EKB / V.K. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, M.Yu. Arzamascev, A.E. Gridnev // Modelirovanie sistem i processov. - 2020. - T. 13, № 4. - S. 19-23. - DOI: 10.12737/2219-0767-2021-13-4-19-23.