Author:
Liu F.,Chinitz L. M.,Abe K.,Breedon R. E.,Fujii Y.,Kurihara Y.,Maki A.,Nozaki T.,Omori T.,Sagawa H.,Sakai Y.,Sasaki T.,Sugimoto Y.,Takaiwa Y.,Terada S.,Kirk P.,Cheng C. P.,Gao W. X.,Yan W. G.,Ye M. H.,Abashian A.,Gotow K.,Mattson M. E.,Piilonen L.,Sterner K. L.,Lusin S.,Rosenfeld C.,Wilson S.,Zheng L. Y.,Fry C. A.,Tanaka R.,Ko Winston,Lander R. L.,Rowe J.,Smith J. R.,Stuart D.,Kanda S.,Olsen S. L.,Ueno K.,Kajino F.,Poling R.,Thomas T.,Aso T.,Miyano K.,Miyata H.,Okubo K.,Oyoshi M.,Shirai M.,Yamashita Y.,Lee M. H.,Sannes F.,Schnetzer S.,Stone R.,Vinson J.,Bodek A.,Kim B. J.,Kumita T.,Li Y. K.,Velisarris C.,Walker R. C.,Kobayashi S.,Murakami A.,Sahu S. K.,Zomorrodian M. E.,Chung Y. S.,Cho D. K.,Kang J. S.,Kim D. Y.,Lee K. B.,Park K. W.,Kim S. K.,Myung S. S.,Choi S. K.,Son D.,Ebara S.,Matsumoto S.,Takashimizu N.,Ishizuka T.
Publisher
American Physical Society (APS)