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Suppression of potential roughness in atom-chip ac Zeeman traps

  • Published:2022-05-31 Issue:5 Volume:105 Page:
  • ISSN:2469-9926
  • Container-title:Physical Review A
  • language:en
  • Short-container-title:Phys. Rev. A

Author:

Du S.,Ziltz A. R.,Miyahira W.ORCID,Aubin S.ORCID

Funder

National Science Foundation

Defense Threat Reduction Agency

College of William and Mary

Publisher

American Physical Society (APS)

Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Potential roughness suppression in a RF AC Zeeman atom chip trap;Quantum Sensing, Imaging, and Precision Metrology II;2024-03-13
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