Author:
Krokovny P.,Abe K.,Abe T.,Adachi I.,Aihara H.,Akatsu M.,Asano Y.,Aso T.,Aulchenko V.,Aushev T.,Bakich A. M.,Ban Y.,Bay A.,Bedny I.,Bondar A.,Bozek A.,Bračko M.,Brodzicka J.,Browder T. E.,Casey B. C. K.,Chang P.,Chao Y.,Chen K.-F.,Cheon B. G.,Chistov R.,Choi S.-K.,Choi Y.,Choi Y. K.,Danilov M.,Drutskoy A.,Eidelman S.,Eiges V.,Enari Y.,Fukunaga C.,Gabyshev N.,Garmash A.,Gershon T.,Haba J.,Hara T.,Hasuko K.,Hayashii H.,Hazumi M.,Higuchi I.,Higuchi T.,Hojo T.,Hoshi Y.,Hou W.-S.,Huang H.-C.,Igarashi Y.,Iijima T.,Inami K.,Ishikawa A.,Itoh R.,Iwasaki H.,Iwasaki Y.,Kaneko J.,Kang J. H.,Kang J. S.,Kapusta P.,Katayama N.,Kawai H.,Kawai H.,Kawakami Y.,Kawasaki T.,Kichimi H.,Kim D. W.,Kim H. J.,Kim H. O.,Kim Hyunwoo,Kim J. H.,Kobayashi S.,Koppenburg P.,Kuzmin A.,Kwon Y.-J.,Lange J. S.,Leder G.,Lee S. H.,Lin S.-W.,Liventsev D.,MacNaughton J.,Majumder G.,Mandl F.,Matsuishi T.,Matsumoto S.,Matsumoto T.,Mitaroff W.,Miyabayashi K.,Miyake H.,Miyata H.,Nagamine T.,Nagasaka Y.,Nakadaira T.,Nakano E.,Nakao M.,Nakazawa H.,Nam J. W.,Natkaniec Z.,Nishida S.,Nitoh O.,Ogawa S.,Ohshima T.,Okabe T.,Okuno S.,Olsen S. L.,Onuki Y.,Ostrowicz W.,Ozaki H.,Pakhlov P.,Palka H.,Park C. W.,Park H.,Peters M.,Piilonen L. E.,Rozanska M.,Rybicki K.,Sagawa H.,Sakai Y.,Satapathy M.,Satpathy A.,Schneider O.,Schrenk S.,Schümann J.,Semenov S.,Senyo K.,Seuster R.,Sevior M. E.,Shibuya H.,Shwartz B.,Sidorov V.,Singh J. B.,Stanič S.,Starič M.,Sugi A.,Sumisawa K.,Sumiyoshi T.,Suzuki S.,Suzuki S. Y.,Swain S. K.,Takahashi T.,Takasaki F.,Tamai K.,Tamura N.,Tanaka J.,Tanaka M.,Taylor G. N.,Teramoto Y.,Tokuda S.,Tomura T.,Tsuboyama T.,Tsukamoto T.,Uehara S.,Unno Y.,Uno S.,Varner G.,Varvell K. E.,Wang C. C.,Wang C. H.,Wang J. G.,Won E.,Yabsley B. D.,Yamada Y.,Yamaguchi A.,Yamashita Y.,Yamauchi M.,Yanai H.,Yusa Y.,Zhang C. C.,Zhang Z. P.,Zhilich V.,Žontar D.