Author:
Abe K.,Abe K.,Abe N.,Abe T.,Adachi I.,Aihara H.,Akai K.,Akatsu M.,Akemoto M.,Asano Y.,Aso T.,Aulchenko V.,Aushev T.,Bakich A. M.,Ban Y.,Banerjee S.,Bay A.,Bedny I.,Bizjak I.,Bondar A.,Bozek A.,Bračko M.,Browder T. E.,Chao Y.,Chen K.-F.,Cheon B. G.,Chistov R.,Choi S.-K.,Choi Y.,Chuvikov A.,Cole S.,Danilov M.,Dragic J.,Drutskoy A.,Eidelman S.,Eiges V.,Enari Y.,Epifanov D.,Flanagan J.,Furukawa K.,Gabyshev N.,Garmash A.,Gershon T.,Golob B.,Haba J.,Hara K.,Hastings N. C.,Hayashii H.,Hazumi M.,Hinz L.,Hokuue T.,Hoshi Y.,Hou W.-S.,Hsiung Y. B.,Huang H.-C.,Iijima T.,Ikeda H.,Inami K.,Ishikawa A.,Ishino H.,Itoh R.,Iwasaki H.,Iwasaki M.,Iwasaki Y.,Kakuno H.,Kamitani T.,Kang J. H.,Kang J. S.,Kapusta P.,Kataoka S. U.,Katayama N.,Kawai H.,Kawasaki T.,Kibayashi A.,Kichimi H.,Kikutani E.,Kim H. J.,Kim J. H.,Kim S. K.,Kinoshita K.,Koppenburg P.,Korpar S.,Križan P.,Krokovny P.,Kumar S.,Kuzmin A.,Kwon Y.-J.,Lange J. S.,Leder G.,Lee S. H.,Lee Y.-J.,Lesiak T.,Li J.,Limosani A.,Lin S.-W.,Liventsev D.,MacNaughton J.,Mandl F.,Marlow D.,Matsumoto H.,Matsumoto T.,Matyja A.,Michizono S.,Mimashi T.,Mitaroff W.,Miyabayashi K.,Miyake H.,Miyata H.,Mohapatra D.,Moloney G. R.,Murakami A.,Nagamine T.,Nagasaka Y.,Nakadaira T.,Nakamura T. T.,Nakano E.,Nakao M.,Nakazawa H.,Natkaniec Z.,Neichi K.,Nishida S.,Nitoh O.,Noguchi S.,Nozaki T.,Ogawa S.,Ogawa Y.,Ohmi K.,Ohshima T.,Ohuchi N.,Oide K.,Okabe T.,Okuno S.,Olsen S. L.,Ostrowicz W.,Ozaki H.,Pakhlov P.,Palka H.,Park C. W.,Park H.,Parslow N.,Piilonen L. E.,Root N.,Rozanska M.,Sagawa H.,Sakai Y.,Schneider O.,Schümann J.,Schwanda C.,Schwartz A. J.,Semenov S.,Senyo K.,Shibuya H.,Shidara T.,Shwartz B.,Sidorov V.,Singh J. B.,Soni N.,Stamen R.,Stanič S.,Starič M.,Sugahara R.,Sumisawa K.,Sumiyoshi T.,Suzuki K.,Suzuki S.,Tajima O.,Takasaki F.,Tamai K.,Tamura N.,Tanaka M.,Tawada M.,Teramoto Y.,Tomura T.,Tsuboyama T.,Tsukamoto T.,Uehara S.,Uglov T.,Ueno K.,Unno Y.,Uno S.,Varner G.,Varvell K. E.,Wang C. C.,Wang C. H.,Wang M.-Z.,Watanabe Y.,Yabsley B. D.,Yamada Y.,Yamaguchi A.,Yamashita Y.,Yamauchi M.,Yanai H.,Yang Heyoung,Ying J.,Yokoyama M.,Yoshida M.,Yusa Y.,Zhang C. C.,Zhang Z. P.,Ziegler T.,Žontar D.,Zürcher D.