Author:
Choi S.-K.,Olsen S. L.,Abe K.,Abe K.,Abe R.,Abe T.,Adachi I.,Ahn Byoung Sup,Aihara H.,Akatsu M.,Asano Y.,Aso T.,Aulchenko V.,Aushev T.,Bakich A. M.,Ban Y.,Banas E.,Bay A.,Behera P. K.,Bondar A.,Bozek A.,Bračko M.,Brodzicka J.,Browder T. E.,Casey B. C. K.,Chang P.,Chao Y.,Cheon B. G.,Chistov R.,Choi Y.,Danilov M.,Dong L. Y.,Drutskoy A.,Eidelman S.,Eiges V.,Enari Y.,Fang F.,Fujii H.,Fukunaga C.,Gabyshev N.,Garmash A.,Gershon T.,Gordon A.,Guo R.,Handa F.,Hara T.,Harada Y.,Hayashii H.,Hazumi M.,Heenan E. M.,Higuchi I.,Higuchi T.,Hojo T.,Hokuue T.,Hoshi Y.,Hou S. R.,Hou W.-S.,Huang H.-C.,Igaki T.,Igarashi Y.,Iijima T.,Inami K.,Ishikawa A.,Itoh R.,Iwamoto M.,Iwasaki H.,Iwasaki Y.,Kaneko J.,Kang J. H.,Kang J. S.,Kapusta P.,Katayama N.,Kawai H.,Kawakami Y.,Kawamura N.,Kawasaki T.,Kichimi H.,Kim D. W.,Kim Heejong,Kim H. J.,Kim H. O.,Kim Hyunwoo,Kim T. H.,Kinoshita K.,Križan P.,Krokovny P.,Kulasiri R.,Kumar S.,Kuzmin A.,Kwon Y.-J.,Lange J. S.,Leder G.,Lee S. H.,Li J.,Liventsev D.,Lu R.-S.,MacNaughton J.,Majumder G.,Mandl F.,Matsumoto S.,Matsumoto T.,Miyake H.,Miyata H.,Moloney G. R.,Mori T.,Nagamine T.,Nagasaka Y.,Nakano E.,Nakao M.,Nam J. W.,Natkaniec Z.,Neichi K.,Nishida S.,Nitoh O.,Nozaki T.,Ogawa S.,Ohno F.,Ohshima T.,Okabe T.,Okuno S.,Ostrowicz W.,Ozaki H.,Pakhlov P.,Palka H.,Park C. W.,Park H.,Peak L. S.,Perroud J.-P.,Peters M.,Piilonen L. E.,Ronga F. J.,Root N.,Rozanska M.,Rybicki K.,Sagawa H.,Saitoh S.,Sakai Y.,Satapathy M.,Satpathy A.,Schneider O.,Schrenk S.,Semenov S.,Senyo K.,Sevior M. E.,Shibuya H.,Shwartz B.,Sidorov V.,Singh J. B.,Stanič S.,Starič M.,Sugi A.,Sugiyama A.,Sumisawa K.,Sumiyoshi T.,Suzuki S.,Suzuki S. Y.,Takahashi T.,Takasaki F.,Tamai K.,Tamura N.,Tanaka J.,Tanaka M.,Taylor G. N.,Teramoto Y.,Tokuda S.,Tomura T.,Tovey S. N.,Tsuboyama T.,Tsukamoto T.,Uehara S.,Ueno K.,Uno S.,Ushiroda Y.,Vahsen S. E.,Varner G.,Varvell K. E.,Wang C. C.,Wang C. H.,Wang J. G.,Wang M.-Z.,Watanabe Y.,Won E.,Yabsley B. D.,Yamada Y.,Yamaguchi A.,Yamashita Y.,Yamauchi M.,Yanai H.,Yashima J.,Yokoyama M.,Yuan Y.,Yusa Y.,Zhang Z. P.,Zhilich V.,Žontar D.