Author:
Abe K.,Abe K.,Abe R.,Abe T.,Ahn Byoung Sup,Aihara H.,Akatsu M.,Asano Y.,Aso T.,Aulchenko V.,Aushev T.,Bakich A. M.,Ban Y.,Banas E.,Bay A.,Bedny I.,Behera P. K.,Bondar A.,Bozek A.,Bračko M.,Brodzicka J.,Browder T. E.,Casey B. C. K.,Chang P.,Chao Y.,Cheon B. G.,Chistov R.,Choi S.-K.,Choi Y.,Danilov M.,Dong L. Y.,Dragic J.,Drutskoy A.,Eidelman S.,Eiges V.,Enari Y.,Fang F.,Fukunaga C.,Gabyshev N.,Garmash A.,Gershon T.,Gordon A.,Guo R.,Handa F.,Hara T.,Harada Y.,Hastings N. C.,Hayashii H.,Hazumi M.,Heenan E. M.,Higuchi I.,Higuchi T.,Hojo T.,Hokune T.,Hoshi Y.,Hoshina K.,Hou S. R.,Hou W.-S.,Hsu S.-C.,Huang H.-C.,Igaki T.,Igarashi Y.,Iijima T.,Inami K.,Ishikawa A.,Itoh R.,Iwasaki H.,Iwasaki Y.,Jang H. K.,Kaneko J.,Kang J. H.,Kang J. S.,Kapusta P.,Katayama N.,Kawai H.,Kawakami Y.,Kawamura N.,Kawasaki T.,Kichimi H.,Kim D. W.,Kim Heejong,Kim H. J.,Kim H. O.,Kim Hyunwoo,Kim S. K.,Kim T. H.,Kinoshita K.,Korpar S.,Krokovny P.,Kulasiri R.,Kumar S.,Kuzmin A.,Kwon Y.-J.,Lange J. S.,Leder G.,Lee S. H.,Li J.,Liventsev D.,Lu R.-S.,MacNaughton J.,Majumder G.,Mandl F.,Matsumoto S.,Miyabayashi K.,Miyake H.,Miyata H.,Moloney G. R.,Mori T.,Nagamine T.,Nagasaka Y.,Nakadaira T.,Nakano E.,Nakao M.,Nam J. W.,Natkaniec Z.,Neichi K.,Nishida S.,Nitoh O.,Noguchi S.,Nozaki T.,Ogawa S.,Ohno F.,Ohshima T.,Okabe T.,Okuno S.,Olsen S. L.,Onuki Y.,Ostrowicz W.,Ozaki H.,Pakhlov P.,Palka H.,Park C. W.,Park H.,Park K. S.,Peak L. S.,Perroud J.-P.,Peters M.,Piilonen L. E.,Root N.,Rozanska M.,Rybicki K.,Sagawa H.,Saitoh S.,Sakai Y.,Sakamoto H.,Satapathy M.,Satpathy A.,Schneider O.,Schrenk S.,Schwanda C.,Semenov S.,Senyo K.,Seuster R.,Sevior M. E.,Shibuya H.,Shwartz B.,Sidorov V.,Singh J. B.,Stanič S.,Starič M.,Sugi A.,Sugiyama A.,Sumisawa K.,Sumiyoshi T.,Suzuki K.,Suzuki S.,Swain S. K.,Takahashi T.,Takasaki F.,Tamai K.,Tamura N.,Tanaka M.,Taylor G. N.,Teramoto Y.,Tokuda S.,Tomura T.,Tovey S. N.,Trabelsi K.,Tsuboyama T.,Tsukamoto T.,Uehara S.,Ueno K.,Unno Y.,Uno S.,Vahsen S. E.,Varner G.,Varvell K. E.,Wang C. C.,Wang C. H.,Wang J. G.,Wang M.-Z.,Watanabe Y.,Won E.,Yabsley B. D.,Yamada Y.,Yamaguchi A.,Yamashita Y.,Yamauchi M.,Yanai H.,Yashima J.,Yuan Y.,Zhang J.,Zhang Z. P.,Zhilich V.,Žontar D.