Author:
Abe K.,Abe K.,Abe N.,Abe T.,Adachi I.,Aihara H.,Akai K.,Akatsu M.,Akemoto M.,Asano Y.,Aushev T.,Bakich A. M.,Ban Y.,Banas E.,Bay A.,Bedny I.,Behera P. K.,Bizjak I.,Bondar A.,Bozek A.,Bračko M.,Brodzicka J.,Browder T. E.,Casey B. C. K.,Chang P.,Chen K.-F.,Cheon B. G.,Chistov R.,Choi S.-K.,Choi Y.,Choi Y. K.,Danilov M.,Dragic J.,Drutskoy A.,Eidelman S.,Eiges V.,Everton C. W.,Flanagan J.,Fukunaga C.,Furukawa K.,Gabyshev N.,Garmash A.,Gershon T.,Golob B.,Guo R.,Hagner C.,Hara K.,Hastings N. C.,Hasuko K.,Hayashii H.,Hazumi M.,Higuchi T.,Hinz L.,Hojo T.,Hokuue T.,Hoshi Y.,Hou W.-S.,Hsiung Y. B.,Huang H.-C.,Igaki T.,Igarashi Y.,Iijima T.,Ikeda H.,Inami K.,Ishikawa A.,Ishino H.,Itoh R.,Iwasaki H.,Iwasaki Y.,Jang H. K.,Kang J. S.,Kapusta P.,Kataoka S. U.,Katayama N.,Katano G.,Kawai H.,Kawamura N.,Kawasaki T.,Kichimi H.,Kikuchi M.,Kikutani E.,Kim D. W.,Kim H. J.,Kim H. O.,Kim Hyunwoo,Kim J. H.,Kim S. K.,Kobayashi S.,Korpar S.,Križan P.,Krokovny P.,Kubo T.,Kulasiri R.,Kumar S.,Kuzmin A.,Kwon Y.-J.,Lange J. S.,Leder G.,Lee S. H.,Li J.,Lin S.-W.,MacNaughton J.,Mandl F.,Marlow D.,Matsumoto S.,Matsumoto T.,Michizono S.,Mimashi T.,Mitaroff W.,Miyabayashi K.,Miyake H.,Miyata H.,Moloney G. R.,Mori T.,Murakami A.,Nagasaka Y.,Nakadaira T.,Nakamura T. T.,Nakano E.,Nakao M.,Nakayama H.,Nam J. W.,Neichi K.,Nishida S.,Nitoh O.,Noguchi S.,Nozaki T.,Ogawa S.,Ogawa Y.,Ohmi K.,Ohnishi Y.,Ohshima T.,Ohuchi N.,Okabe T.,Okuno S.,Olsen S. L.,Onuki Y.,Ostrowicz W.,Ozaki H.,Palka H.,Park C. W.,Park H.,Park K. S.,Peak L. S.,Perroud J.-P.,Peters M.,Piilonen L. E.,Rozanska M.,Rybicki K.,Sagawa H.,Saitoh S.,Sakai Y.,Sarangi T. R.,Satapathy M.,Satpathy A.,Schneider O.,Schrenk S.,Schümann J.,Schwanda C.,Semenov S.,Senyo K.,Sevior M. E.,Shibuya H.,Shidara T.,Shwartz B.,Sidorov V.,Singh J. B.,Stanič S.,Starič M.,Sugahara R.,Sugiyama A.,Sumisawa K.,Sumiyoshi T.,Suzuki K.,Suzuki S.,Takahashi T.,Takasaki F.,Tamai K.,Tamura N.,Tanaka J.,Tanaka M.,Tawada M.,Taylor G. N.,Teramoto Y.,Tokuda S.,Tomura T.,Trabelsi K.,Tsuboyama T.,Tsukamoto T.,Uehara S.,Unno Y.,Uno S.,Uozaki N.,Vahsen S. E.,Varner G.,Varvell K. E.,Wang C. C.,Wang C. H.,Wang J. G.,Wang M.-Z.,Watanabe Y.,Won E.,Yabsley B. D.,Yamada Y.,Yamaguchi A.,Yamamoto H.,Yamashita Y.,Yamashita Y.,Yamauchi M.,Yokoyama M.,Yoshida M.,Zhang C. C.,Zhang Z. P.,Zhilich V.,Žontar D.