Author:
Siegrist J. L.,Schwitters R. F.,Alam M. S.,Boyarski A. M.,Breidenbach M.,Bulos F.,Dakin J. T.,Dorfan J. M.,Feldman G. J.,Fryberger D.,Hanson G.,Jaros J. A.,Jean-Marie B.,Larsen R. R.,Lüth V.,Lynch H. L.,Lyon D.,Morehouse C. C.,Perl M. L.,Peruzzi I.,Piccolo M.,Pun T. P.,Rapidis P.,Richter B.,Schindler R. H.,Tanenbaum W.,Vannucci F.,Chinowsky W.,Abrams G. S.,Briggs D.,Carithers W. C.,Cooper S.,DeVoe R. G.,Friedberg C. E.,Goldhaber G.,Hollebeek R. J.,Johnson A. D.,Kadyk J. A.,Litke A. M.,Madaras R. J.,Nguyen H. K.,Pierre F. M.,Sadoulet B.,Trilling G. H.,Whitaker J. S.,Wiss J. E.
Publisher
American Physical Society (APS)