Excess electronic recoil events in XENON1T
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Published:2020-10-12
Issue:7
Volume:102
Page:
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ISSN:2470-0010
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Container-title:Physical Review D
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language:en
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Short-container-title:Phys. Rev. D
Author:
Aprile E., Aalbers J., Agostini F., Alfonsi M., Althueser L., Amaro F. D., Antochi V. C., Angelino E., Angevaare J. R., Arneodo F., Barge D., Baudis L., Bauermeister B., Bellagamba L., Benabderrahmane M. L., Berger T., Brown A., Brown E., Bruenner S., Bruno G., Budnik R., Capelli C., Cardoso J. M. R., Cichon D., Cimmino B., Clark M., Coderre D., Colijn A. P., Conrad J., Cussonneau J. P., Decowski M. P., Depoian A., Di Gangi P., Di Giovanni A., Di Stefano R., Diglio S., Elykov A., Eurin G., Ferella A. D., Fulgione W., Gaemers P., Gaior R., Galloway M.ORCID, Gao F., Grandi L., Hasterok C., Hils C., Hiraide K., Hoetzsch L., Howlett J., Iacovacci M., Itow Y., Joerg F., Kato N., Kazama S., Kobayashi M., Koltman G., Kopec A., Landsman H., Lang R. F., Levinson L., Lin Q., Lindemann S., Lindner M., Lombardi F., Long J., Lopes J. A. M., López Fune E., Macolino C., Mahlstedt J., Mancuso A., Manenti L., Manfredini A., Marignetti F., Marrodán Undagoitia T., Martens K., Masbou J., Masson D., Mastroianni S., Messina M., Miuchi K., Mizukoshi K., Molinario A., Morå K., Moriyama S., Mosbacher Y., Murra M., Naganoma J., Ni K., Oberlack U., Odgers K., Palacio J., Pelssers B., Peres R., Pienaar J., Pizzella V., Plante G., Qin J., Qiu H., Ramírez García D., Reichard S., Rocchetti A., Rupp N., dos Santos J. M. F., Sartorelli G., Šarčević N., Scheibelhut M., Schreiner J., Schulte D., Schumann M., Scotto Lavina L., Selvi M., Semeria F., Shagin P., Shockley E.ORCID, Silva M., Simgen H., Takeda A., Therreau C., Thers D., Toschi F., Trinchero G., Tunnell C., Vargas M., Volta G., Wang H., Wei Y., Weinheimer C., Weiss M., Wenz D., Wittweg C., Xu Z., Yamashita M., Ye J.ORCID, Zavattini G., Zhang Y., Zhu T., Zopounidis J. P., Mougeot X.,
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Publisher
American Physical Society (APS)
Cited by
422 articles.
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