Author:
Coffman D.,DeJongh F.,Dubois G.,Eigen G.,Hauser J.,Hitlin D. G.,Matthews C. G.,Mincer A.,Richman J. D.,Wisniewski W. J.,Zhu Y.,Burchell M.,Dorfan D. E.,Drinkard J.,Gatto C.,Hamilton R. P.,Heusch C. A.,Köpke L.,Lockman W. S.,Partridge R.,Sadrozinski H. F. W.,Scarlatella M.,Schalk T. L.,Seiden A.,Weinstein A. J.,Weseler S.,Xu R.,Becker J. J.,Blaylock G. T.,Eisenstein B. I.,Freese T.,Gladding G.,Izen J. M.,Plaetzer S. A.,Simopoulos C.,Spadafora A. L.,Stockdale I. E.,Tripsas B.,Mallik U.,Roco M.,Wang M. Z.,Adler J.,Bolton T.,Brient J. C.,Bunnell K. O.,Cassell R. E.,Coward D. H.,Einsweiler K. F.,Grab C.,Kim P. C.,Labs J.,Odian A.,Pitman D.,Schindler R. H.,Stockhausen W.,Toki W.,Villa F.,Wasserbaech S.,Brown J. S.,Burnett T. H.,Cook V.,Li A. D.,Mir R.,Mockett P. M.,Nemati B.,Parrish L.,Willutzki H. J.
Publisher
American Physical Society (APS)