Author:
Garmash A.,Abe K.,Abe K.,Abe N.,Abe T.,Adachi I.,Aihara H.,Asano Y.,Aso T.,Aulchenko V.,Aushev T.,Bakich A. M.,Ban Y.,Banas E.,Behari S.,Behera P. K.,Bondar A.,Bozek A.,Bračko M.,Browder T. E.,Casey B. C. K.,Chang P.,Chao Y.,Cheon B. G.,Chistov R.,Choi S.-K.,Choi Y.,Dong L. Y.,Drutskoy A.,Eidelman S.,Eiges V.,Fang F.,Fujii H.,Fukunaga C.,Fukushima M.,Gabyshev N.,Gershon T.,Gordon A.,Gotow K.,Guo R.,Haba J.,Hamasaki H.,Handa F.,Hara K.,Hara T.,Hastings N. C.,Hayashii H.,Hazumi M.,Heenan E. M.,Higuchi I.,Higuchi T.,Hojo T.,Hokuue T.,Hoshi Y.,Hoshina K.,Hou S. R.,Hou W.-S.,Huang H.-C.,Igarashi Y.,Iijima T.,Ikeda H.,Inami K.,Ishikawa A.,Ishino H.,Itoh R.,Iwasaki H.,Iwasaki Y.,Jackson D. J.,Jang H. K.,Kang J. H.,Kang J. S.,Kapusta P.,Katayama N.,Kawai H.,Kawai H.,Kawamura N.,Kawasaki T.,Kichimi H.,Kim D. W.,Kim Heejong,Kim H. J.,Kim H. O.,Kim Hyunwoo,Kim S. K.,Kim T. H.,Kinoshita K.,Konishi H.,Korpar S.,Križan P.,Krokovny P.,Kulasiri R.,Kumar S.,Kuzmin A.,Kwon Y.-J.,Lange J. S.,Leder G.,Lee S. H.,Limosani A.,Liventsev D.,Lu R.-S.,MacNaughton J.,Mandl F.,Marlow D.,Matsumoto S.,Matsumoto T.,Mikami Y.,Miyake H.,Miyata H.,Moloney G. R.,Moorhead G. F.,Mori S.,Mori T.,Murakami A.,Nagamine T.,Nagasaka Y.,Nagashima Y.,Nakadaira T.,Nakano E.,Nakao M.,Nam J. W.,Natkaniec Z.,Neichi K.,Nishida S.,Nitoh O.,Nozaki T.,Ogawa S.,Ohno F.,Ohshima T.,Okabe T.,Okuno S.,Olsen S. L.,Ostrowicz W.,Ozaki H.,Pakhlov P.,Palka H.,Park C. S.,Park C. W.,Park K. S.,Peak L. S.,Perroud J.-P.,Peters M.,Piilonen L. E.,Rybicki K.,Ryuko J.,Sagawa H.,Sakai Y.,Sakamoto H.,Satapathy M.,Satpathy A.,Schneider O.,Schrenk S.,Semenov S.,Senyo K.,Sevior M. E.,Shibuya H.,Singh J. B.,Stanič S.,Sugiyama A.,Sumisawa K.,Sumiyoshi T.,Suzuki K.,Suzuki S.,Swain S. K.,Takahashi T.,Takasaki F.,Takita M.,Tamai K.,Tamura N.,Tanaka J.,Tanaka M.,Taylor G. N.,Teramoto Y.,Tomoto M.,Tomura T.,Tovey S. N.,Trabelsi K.,Tsukamoto T.,Uehara S.,Ueno K.,Uno S.,Ushiroda Y.,Wang C. C.,Wang C. H.,Wang J. G.,Wang M.-Z.,Watanabe Y.,Won E.,Yabsley B. D.,Yamada Y.,Yamaga M.,Yamaguchi A.,Yamashita Y.,Yamauchi M.,Yokoyama M.,Yuan Y.,Zhang C. C.,Zhang J.,Zheng Y.,Zhilich V.,Žontar D.