Author:
Uglov T.,Abe K.,Abe K.,Abe T.,Aihara H.,Akatsu M.,Asano Y.,Aso T.,Aulchenko V.,Bakich A. M.,Ban Y.,Bitenc U.,Bizjak I.,Bondar A.,Bozek A.,Bračko M.,Browder T. E.,Chao Y.,Cheon B. G.,Chistov R.,Choi S.-K.,Choi Y.,Chuvikov A.,Cole S.,Danilov M.,Drutskoy A.,Eidelman S.,Eiges V.,Enari Y.,Epifanov D.,Fratina S.,Gabyshev N.,Garmash A.,Gershon T.,Golob B.,Hastings N. C.,Hayashii H.,Hazumi M.,Hokuue T.,Hoshi Y.,Huang H.-C.,Inami K.,Ishikawa A.,Iwasaki H.,Iwasaki M.,Iwasaki Y.,Kang J. H.,Kang J. S.,Kapusta P.,Katayama N.,Kawai H.,Kawasaki T.,Kichimi H.,Kim H. J.,Kim J. H.,Kim S. K.,Kinoshita K.,Koppenburg P.,Korpar S.,Krokovny P.,Kumar S.,Kuzmin A.,Kwon Y.-J.,Lange J. S.,Leder G.,Lee S. H.,Lesiak T.,Li J.,Lin S.-W.,Liventsev D.,MacNaughton J.,Majumder G.,Matsumoto H.,Matsumoto T.,Matyja A.,Mitaroff W.,Miyake H.,Miyata H.,Mohapatra D.,Nagamine T.,Nagasaka Y.,Nakadaira T.,Nakano E.,Nakao M.,Nishida S.,Nitoh O.,Nozaki T.,Ogawa S.,Ohshima T.,Okuno S.,Olsen S. L.,Ostrowicz W.,Ozaki H.,Pakhlov P.,Palka H.,Park C. W.,Park H.,Parslow N.,Peak L. S.,Piilonen L. E.,Sakai Y.,Schneider O.,Schümann J.,Schwanda C.,Semenov S.,Senyo K.,Seuster R.,Shibuya H.,Shwartz B.,Sidorov V.,Singh J. B.,Soni N.,Stamen R.,Stanič S.,Starič M.,Sumiyoshi T.,Suzuki S.,Tajima O.,Takasaki F.,Tamai K.,Tamura N.,Tanaka M.,Teramoto Y.,Tomura T.,Tsuboyama T.,Tsukamoto T.,Uehara S.,Unno Y.,Uno S.,Varner G.,Varvell K. E.,Wang C. C.,Wang C. H.,Widhalm L.,Yabsley B. D.,Yamada Y.,Yamaguchi A.,Yamashita Y.,Yamauchi M.,Yang Heyoung,Ying J.,Yusa Y.,Zhang C. C.,Zhilich V.,Žontar D.