Author:
Gaffney L. P.,Butler P. A.,Scheck M.,Hayes A. B.,Wenander F.,Albers M.,Bastin B.,Bauer C.,Blazhev A.,Bönig S.,Bree N.,Cederkäll J.,Chupp T.,Cline D.,Cocolios T. E.,Davinson T.,De Witte H.,Diriken J.,Grahn T.,Herzan A.,Huyse M.,Jenkins D. G.,Joss D. T.,Kesteloot N.,Konki J.,Kowalczyk M.,Kröll Th.,Kwan E.,Lutter R.,Moschner K.,Napiorkowski P.,Pakarinen J.,Pfeiffer M.,Radeck D.,Reiter P.,Reynders K.,Rigby S. V.,Robledo L. M.,Rudigier M.,Sambi S.,Seidlitz M.,Siebeck B.,Stora T.,Thoele P.,Van Duppen P.,Vermeulen M. J.,von Schmid M.,Voulot D.,Warr N.,Wimmer K.,Wrzosek-Lipska K.,Wu C. Y.,Zielinska M.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC