Author:
Hare B. M.,Scholten O.,Dwyer J.,Trinh T. N. G.,Buitink S.,ter Veen S.,Bonardi A.,Corstanje A.,Falcke H.,Hörandel J. R.,Huege T.,Mitra P.,Mulrey K.,Nelles A.,Rachen J. P.,Rossetto L.,Schellart P.,Winchen T.,Anderson J.,Avruch I. M.,Bentum M. J.,Blaauw R.,Broderick J. W.,Brouw W. N.,Brüggen M.,Butcher H. R.,Ciardi B.,Fallows R. A.,de Geus E.,Duscha S.,Eislöffel J.,Garrett M. A.,Grießmeier J. M.,Gunst A. W.,van Haarlem M. P.,Hessels J. W. T.,Hoeft M.,van der Horst A. J.,Iacobelli M.,Koopmans L. V. E.,Krankowski A.,Maat P.,Norden M. J.,Paas H.,Pandey-Pommier M.,Pandey V. N.,Pekal R.,Pizzo R.,Reich W.,Rothkaehl H.,Röttgering H. J. A.,Rowlinson A.,Schwarz D. J.,Shulevski A.,Sluman J.,Smirnov O.,Soida M.,Tagger M.,Toribio M. C.,van Ardenne A.,Wijers R. A. M. J.,van Weeren R. J.,Wucknitz O.,Zarka P.,Zucca P.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC