1. 1) M. X. Chu, K. Miyajima, D. Takahashi, T. Arakawa, K. Sano, S.-i. Sawada, H. Kudo, Y. Iwasaki, K. Akiyoshi, M. Mochizuki, and K. Mitsubayashi, Talanta, 83, 960 (2011).
2. 3) https://ja.wikipedia.org/wiki/%E3%82%AF%E3%82%AA%E3%83%AA%E3%83%86%E3%82%A3%E3%83%BB%E3%82%AA%E3%83%96%E3%83%BB%E3%83%A9%E3%82%A4%E3%83%95.
3. 4) Y. Liao, H. Yao, B. Parviz, and B. Otis, 2011 IEEE International Solid-State Circuits Conference, San Francisco, CA, p. 38 (2011).
4. 5) K. Hayashi, S. Arata, S. Murakami, Y. Nishio, A. Kobayashi, and K. Niitsu, IEEE Trans. Circuits Syst. II, 65, 1360 (2018).
5. 6) K. Niitsu, A. Kobayashi, K. Hayashi, Y. Nishio, K. Ikeda, T. Ando, Y. Ogawa, H. Kai, M. Nishizawa, and K. Nakazato, IEEE Trans. Circuits Syst. I, 65, 2784 (2018).