Tuning Localized Surface Plasmon Resonance in Scanning Near-Field Optical Microscopy Probes

Author:

Vasconcelos Thiago L.12,Archanjo Bráulio S.2,Fragneaud Benjamin3,Oliveira Bruno S.2,Riikonen Juha4,Li Changfeng4,Ribeiro Douglas S.1,Rabelo Cassiano1,Rodrigues Wagner N.1,Jorio Ado1,Achete Carlos A.25,Cançado Luiz Gustavo12

Affiliation:

1. Departamento de Física, Universidade Federal de Minas Gerais, Belo Horizonte, MG 30123-970, Brazil

2. Divisão de Metrologia de Materiais, Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (INMETRO), Duque de Caxias, RJ 25250-020, Brazil

3. Departamento de Física, Universidade Federal de Juiz de Fora, Juiz de Fora, MG 36036-900, Brazil

4. Department of Micro- and Nanosciences, Aalto University, Tietotie 3, 02150 Espoo, Finland

5. Departamento de Engenharia Metalúrgica e de Materiais, Universidade Federal do Rio de Janeiro, Rio de Janeiro, RJ 21941-972, Brazil

Funder

Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de Minas Gerais

Tekes

Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico

Suomen Akatemia

Financiadora de Estudos e Projetos

Fundação Carlos Chagas Filho de Amparo à Pesquisa do Estado do Rio de Janeiro

Seventh Framework Programme

Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia

Publisher

American Chemical Society (ACS)

Subject

General Physics and Astronomy,General Engineering,General Materials Science

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