Trace Chemical Characterization Using Monochromatic X-ray Undulator Radiation

Author:

Eba Hiromi1,Numako Chiya1,Iihara Junji1,Sakurai Kenji1

Affiliation:

1. National Research Institute for Metals, 1-2-1, Sengen, Tsukuba, Ibaraki 305-0047, Japan, University of Tokushima, 1-1, Minami-Josanjima, Tokushima 770-8502, Japan, and Sumitomo Electric Industries Company Ltd., 1-1-1, Koya-kita, Itami, Hyogo 664-0016, Japan

Publisher

American Chemical Society (ACS)

Subject

Analytical Chemistry

Reference18 articles.

1. SPring-8 Program

2. Iida, A.; Gohshi, Y. InHandbook on Synchrotron Radiation; Ebashi, S., Koch, M., Rubenstein, E., Eds.; North-Holland:  Amsterdam, 1991; Vol. 4, Chapter 9, p 307.

3. Jenkins, R.An introduction to X-ray spectrometry; Heyden & Sons:  London, 1974; Chapter 4, p 52.

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