1. Hagenhoff, B.; Cobben, P. L.; Bendel, C.; Niehuis, E.; Benninghoven, A. InSecondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XI); Gillen, G., Lareau, R., Bennett, J., Stevie, F., Eds.; Wiley & Sons: Chichester, U.K., 1998; pp 585−588.
2. van Stipdonk, M. J.; Harris, R. D.; Schweikert, E. A. InSecondary IonMass Spectrometry (SIMS XI); Gillen, G., Lareau, R., Bennett, J., Stevie, F., Eds.; Wiley & Sons: Chichester, U.K., 1998; pp 877−882.
3. Diehnelt, C. W.; van Stipdonk, M. J.; Harris, R. D.; Schweikert, E. A. InSecondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XI); Gillen, G., Lareau, R., Bennett, J., Stevie, F., Eds.; Wiley & Sons: Chichester, U.K., 1998; pp 593−596.