Universal Equation for Argon Cluster Size-Dependence of Secondary Ion Spectra in SIMS of Organic Materials

Author:

Seah Martin P.1,Havelund Rasmus1,Gilmore Ian S.1

Affiliation:

1. National Physical Laboratory, Teddington, Middlesex TW11 0LW, U.K.

Publisher

American Chemical Society (ACS)

Subject

Surfaces, Coatings and Films,Physical and Theoretical Chemistry,General Energy,Electronic, Optical and Magnetic Materials

Reference36 articles.

1. Secondary-ion emission of amino acids

2. The Static SIMS Library, version 4;Vickerman, J. C.; Briggs, D.; Henderson, A., Eds.SurfaceSpectra:Manchester, 2006, (http://surfacespectra.com/simslibrary/).

3. Schwede, B. C.; Heller, T.; Rading, D.; Niehius, E.; Wiedmann, L.; Benninghoven, A.The Munster High Mass Resolution Static SIMS Library;ION-TOF:Munster, 2003.

4. Static SIMS: towards unfragmented mass spectra — the G-SIMS procedure

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