РАСШИРЕНИЕ АНАЛИТИЧЕСКИХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ПРИ ДЕТЕКТИРОВАНИИ ОБРАТНОРАССЕЯННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ
Author:
Affiliation:
1. Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Физический факультет
Publisher
The Russian Academy of Sciences
Reference27 articles.
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