DIFFERENT SCHEMES FOR OBTAINING FRACTAL RELIEF OF NANOSIZED PLATINUM FILMS

Author:

Иванов Дмитрий Викторович,Антонов Александр Сергеевич,Семенова Елена Михайловна,Иванова Александра Ивановна,Анофриев Виталий Александрович,Сдобняков Николай Юрьевич

Abstract

В работе исследуется морфология рельефа наноразмерных пленок платины на поверхности слюды с помощью сканирующего зондового (в режиме атомного-силового) и туннельного микроскопов. Пленки платины исследовались непосредственно после их получения на установке магнетронного напыления, а также после отжига в муфельной печи в воздушной атмосфере. Отжиг позволял установить возможные диапазоны изменения фрактальной размерности и высотных параметров, соответствующие деградации нанорельефа. Получены значения фрактальной размерности для пленок разной толщины при двух альтернативных методах исследования на разных исходных масштабах образцов: на основе данных атомносилового микроскопа - D̅=2,17÷2,38 и сканирующего туннельного микроскопа - D̅=2,28÷2,50 в зависимости от последовательности напыления слоев и отжига пленок. Выбор последовательности операций магнетронного напыления и отжига и внешних условий позволяют формулировать рекомендации по развитию технологии «выращивания» структур с заданной морфологией поверхности. The morphology of the relief of nanosized platinum films on the mica surface is investigated using the scanning probe (in the atomic force mode) and tunneling microscopy. Platinum films were investigated immediately after their preparation in a magnetron sputtering facility, as well as after annealing in a muffle furnace in an air atmosphere. Annealing made it possible to establish the possible ranges of variation of the fractal dimension and the altitude parameters corresponding to degradation of the nanorelief. The values of the fractal dimension were obtained for films of different thicknesses using two alternative methods of investigation at different initial scales of samples: based on the data of an atomic force microscope - D̅ = 2,17÷2,38 and a scanning tunneling microscope - D̅ = 2,28÷2,50 depending on the sequence of deposition of layers and annealing of films. For comparison, experimental data of other authors are presented. The choice of the sequence of operations for magnetron sputtering and annealing, and external conditions makes it possible to formulate recommendations for development of the technology for «growing» structures with a given surface morphology.

Publisher

Tver State University

Subject

Applied Mathematics

Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. TO THE PROBLEM OF AUTOMATION OF THE PROCESS OF DETERMINATION OF THE FRACTAL DIMENSION;Physical and Chemical Aspects of the Study of Clusters, Nanostructures and Nanomaterials;2022-12-15

2. ON THE FORMATION OF FRACTAL IRON FILMS;Physical and Chemical Aspects of the Study of Clusters, Nanostructures and Nanomaterials;2022-12-15

同舟云学术

1.学者识别学者识别

2.学术分析学术分析

3.人才评估人才评估

"同舟云学术"是以全球学者为主线,采集、加工和组织学术论文而形成的新型学术文献查询和分析系统,可以对全球学者进行文献检索和人才价值评估。用户可以通过关注某些学科领域的顶尖人物而持续追踪该领域的学科进展和研究前沿。经过近期的数据扩容,当前同舟云学术共收录了国内外主流学术期刊6万余种,收集的期刊论文及会议论文总量共计约1.5亿篇,并以每天添加12000余篇中外论文的速度递增。我们也可以为用户提供个性化、定制化的学者数据。欢迎来电咨询!咨询电话:010-8811{复制后删除}0370

www.globalauthorid.com

TOP

Copyright © 2019-2024 北京同舟云网络信息技术有限公司
京公网安备11010802033243号  京ICP备18003416号-3