Особенности дифракции сферической рентгеновской волны на малоугловой границе кручения, перпендикулярной поверхности кристалла

Abstract

Исследовано дифракционное поведение малоугловой границы кручения, при облучении кристалла рентгеновским точечным источником. Показано, что при фокусировке излучения внутри кристалла, благодаря дислокационной структуре дефектной стенки, вертикальную расходимость можно настолько уменьшить, чтобы размеры фокуса в этом направлении были значительно меньше, чем в горизонтальном. Это обстоятельство может быть использовано при создании рентгенооптических элементов. The diffraction behavior of a low-angle twist boundary was studied when the crystal was irradiated with an X-ray point source. It is shown that when radiation focused inside a crystal, thanks to the dislocation structure of the defect wall, the vertical divergence can be reduced so much that the size of the focus in this direction is significantly smaller than in the horizontal direction. This circumstance can be used to create X-ray optical elements.