Desenvolvimento e avaliação de uma fonte DC de alta tensão para utilização em sistema de deposição de filmes finos por pulverização catódica

Author:

Machuno Luís Gustavo Baptista1,Lima Anderson Barbosa1,Buso Rafael Rocha1,Abdanur Rubens Miguel Favarato1,Rangel Elidiane Cipriano2,Gelamo Rogério Valentim1

Affiliation:

1. UFTM, Brazil

2. Laboratório de Plasmas Tecnológicos, Brasil

Abstract

RESUMO O trabalho em questão está relacionado ao projeto e construção de uma fonte de alta tensão em corrente contínua utilizando materiais e dispositivos adquiridos no comércio local visando sua aplicação no processo de pulverização catódica. Essa técnica permite a deposição de filmes finos de metais, óxidos e nitretos sobre substratos sólidos. Como teste de funcionamento e aplicação da fonte DC, com a mesma instalada em canhão de pulverização em alto vácuo, filmes finos de diferentes espessuras de cobre, aço inoxidável 304 e tungstênio foram depositados e estudados. Análise de espessura, morfologia, e resistência elétrica e resistividade foram conduzidas. Filmes com resistividade elétrica dependente das espessuras foram obtidos. A fonte DC se mostrou confiável em operação e permite a deposição de uma infinidade de materiais nas mais diferentes espessuras sobre vários tipos de substratos.

Publisher

FapUNIFESP (SciELO)

Subject

General Physics and Astronomy,General Materials Science,General Chemistry

Reference22 articles.

1. Engineering materials science;OHRING M.,1995

2. Thin-film - principles na practice,;SMITH D. L.,1995

3. "Helium ion irradiation of polymer films deposited from TMS-Ar plasmas";GELAMO R. V.;Plasma Processes and Polymers,2007

4. "Evaluation of nanostructured S-doped TiO2 thin films and their photoelectrochemical application as photoanode for corrosion protection of 304 stainless steel";ARMAN S.Y.;Surface and Coatings Technology,2014

5. "Smart VO2 thin film for protection of sensitive infrared detectors from strong laser radiation";CHEN S.;Sensor and Actuators A: Physical,2004

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