1. L. Manchanda, M.L. Green, R.B. van Dover, M.D. Morris, A. Kerber, Y. Hu, J.-P. Han, P.J. Silverman, T.W. Sorsch, G. Weber, V. Donnelly, K. Pelhos, F. Klemens, N.A. Ciampa, A. Kornblit, Y.O. Kim, J.E. Bower, D. Barr, E. Ferry, D. Jacobson, J. Eng, B. Busch, H. Schulte, Digest International Electron Device Meeting, pp. 23 – 26 (2000)
2. D. A. Buchanan, E. P. Gusev, E. Cartier, H. Okorn-Schmidt, K. Rim, M. A. Gribelyuk, A. Mocuta, A. Ajmera, M. Copel, S. Guha, N. Bojarczuk, A. Callegari, C. D’Emic, P. Kozlowski, K. Chan, R. J. Fleming, P. C. Jamison, I. Brown, R. Arndt, Digest International Electron Device Meeting, pp. 223 - 22 (2000)
3. K. Mistry, C. Allen, C. Auth, B. Beattie, D. Bergstrom, M. Bost, M. Brazier, M. Buehler, A. Cappellani, R. Chau, C.-H. Choi, G. Ding, K. Fischer, T. Ghani, R. Grover, W. Han, D. Hanken, M. Hattendorf, J. He, J. Hicks, R. Huessner, D. Ingerly, P. Jain, R. James, L. Jong, S. Joshi, C. Kenyon, K. Kuhn, K. Lee, H. Liu, J. Maiz, B. Mclntyre, P. Moon, J. Neirynck, S. Pae, C. Parker, D. Parsons, C. Prasad, L. Pipes, M. Prince, P. Ranade, T. Reynolds, J. Sandford, L. Shifren, J. Sebastian, J. Seiple, D. Simon, S. Sivakumar, P. Smith, C. Thomas, T. Troeger, P. Vandervoorn, S. Williams, and K. Zawadzki, Digest International Electron Device Meeting, pp. 247–250 (2007)
4. P. Packan, S. Akbar, M. Armstrong, D. Bergstrom, M. Brazier, H. Deshpande, K. Dev, G. Ding, T. Ghani, O. Golonzka, W. Han, J. He, R. Heussner, R. James, J. Jopling, C. Kenyon, S-H. Lee, M. Liu, S. Lodha, B. Mattis, A. Murthy, L. Neiberg, J. Neirynck, S. Pae, C. Parker, L. Pipes, J. Sebastian, J. Seiple, B. Sell, A. Sharma, S. Sivakumar, B. Song, A. St. Amour, K. Tone, T. Troeger, C. Weber, K. Zhang, Y. Luo, S. Nataraja, Digest International Electron Device Meeting, pp. 659–662 (2009)
5. S. Krishnan, U. Kwon, N. Moumen, M.W. Stoker, E.C.T. Harley, S. Bedell, D. Nair, B. Greene, W. Henson, M. Chowdhury, D.P. Prakash, E. Wu, D. Ioannou, E. Cartier, M.-H. Na, S. Inumiya, K. Mcstay, L. Edge, R. Iijima1, J. Cai, M. Frank, M. Hargrove, A. Kerber, H. Jagannathan, T. Ando, J. Shepard, S. Siddiqui, M. Dai, H. Bu, J. Schaeffer, D. Jaeger, K. Barla, T. Wallner, S. Uchimura1, Y. Lee, G. Karve, S. Zafar, D. Schepis, Y. Wang, R. Donaton, S. Saroop, P. Montanini, Y. Liang, J. Stathis, R. Carter, R. Pal, V. Paruchuri, H. Yamasaki, J-H. Lee, M. Ostermayr, J-P. Han, Y. Hu, M. Gribelyuk, D.-G. Park, X. Chen, S. Samavedam, S. Narasimha, P. Agnello, M. Khare, R. Divakaruni, V. Narayanan, M. Chudzik, Digest International Electron Device Meeting, pp. 634–637 (2011)