1. H. Yamaguchi, T. Iizuka, H. Koga, K. Takemura, S. Sone, H. Yabuta, S. Yamamichi, P-Y. Leisaicherre, M. Suzuki, Y. Kojima, K. Nakajima, N. Kasai, T. Sakuma, Y. Kato, Y. Mayasaka, M. Yoshida, and S. Nishimoto, Proceedings of the 1996 International Electron Device Meeting (1996), p. 675.
2. Y. Nishioka, K. Shiozawa, K. Kanamoto, Y. Tokuda, H. Sumitani, S. Aya, H. Yabe, K. Itoga, T. Hifumi, K. Marumoto, T. Kuroiwa, T. Kawahara, K. Nishikawa, T. Oomori, T. Fujino, S. Yamamoto, S. Uzawa, M. Kimura, M. Nunoshita, and H. Abe, Proceedings of 1995 International Electron Device Meeting (1995), p. 903.
3. S. Onishi, K. Hamada, K. Ishikawa, Y. Ito, S. Yokoyama, J. Kudo, and K. Sakiyama, Proceedings of the 1994 International Electron Device Meeting (1994), p. 843.
4. A. Grill, W. Kane, J. Viggiano, M. Brady, and R. Laibowitz, J. Mater. Res. 7, 3260 (1992).
5. K. Takemura, T. Sakuma, S. Matsubara, S. Yamamichi, H. Yamaguchi, and Y. Miyasaka, Proceedings of the 1992 International Symposium on Integrated Ferroelectrics (1992), p. 481.