Enabling to calculate the number of soft errors caused by neutrons in various environments, e.g., in outer space or even on other planets
Author:
Affiliation:
1. 日本電信電話(株) 宇宙環境エネルギー研究所
2. 北海道大学
3. 名古屋大学
Publisher
Atomic Energy Society of Japan
Subject
Nuclear Energy and Engineering
Link
https://www.jstage.jst.go.jp/article/jaesjb/63/7/63_531/_pdf
Reference4 articles.
1. 1) Iwashita, Hidenori, et al. “Energy-Resolved Soft-Error Rate Measurements for 1-800 MeV Neutrons by the Time-of-Flight Technique at LANSCE.” IEEE Transactions on Nuclear Science, 2020, p.2363-2369.
2. 2) NTT持株会社ニュースリリース．“世界で初めて半導体ソフトエラーを引き起こす中性子のエネルギー特性を測定”．NTT. 2020-11-25. https://www.ntt.co.jp/news2020/2011/201125a.html
3. 3) JOHANSSON, K., et al. Energy-resolved neutron SEU measurements from 22 to 160 MeV. IEEE Transactions on Nuclear Science, 1998, p. 2519-2526.
4. 4) ABE, Shin-ichiro; WATANABE, Yukinobu. Analysis of charge deposition and collection caused by low energy neutrons in a 25- nm bulk CMOS technology. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2014, p. 3519-3526.
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1. Direct measurement of an energy-dependent single-event-upset cross-section with time-of-flight method at CSNS;Chinese Physics B;2023-01-01
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