Spin Electronics for Non Destructive Testing-Reference-Cited by-同舟云学术

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Spin Electronics for Non Destructive Testing

Published:2017-03-24 Issue: Volume: Page:81-102
ISSN:
Container-title:Nanomagnetism: Applications and Perspectives
language:
Short-container-title:

Author:

Pelkner Matthias¹,Kreutzbruck Marc²

Affiliation:

1. Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung; Unter den Eichen 87 12205 Berlin Germany

2. Universität Stuttgart; Institut für Kunststofftechnik; Pfaffenwaldring 32 70569 Stuttgart Germany

Publisher

Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA

Link

http://onlinelibrary.wiley.com/wol1/doi/10.1002/9783527698509.ch5/fullpdf

Reference63 articles.

1. DIN EN 2001 12084

2. DIN EN ISO 2015 9934-1

3. DIN EN ISO 3452-1 2014

Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Simulation-Trained Neural Networks for Automatable Crack Detection in Magnetic Field Images;Journal of Nondestructive Evaluation;2024-01-05

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