Subject
Condensed Matter Physics,Electronic, Optical and Magnetic Materials,Condensed Matter Physics,Electronic, Optical and Magnetic Materials
Reference10 articles.
1. in: Modern Diffraction and Imaging Techniques in Material Science, Ed. , , and , North Holland Publ. Co., Amsterdam 1970 (p. 233).
2. Elektronenmikroskopische Untersuchung von Fehlstellen-agglomeraten in ionenbestrahlten Kupferfolien. I. Analyse von Agglomerattyp und -konfiguration
3. Elektronenmikroskopische Untersuchung von Fehlstellenagglomeraten in ionenbestrahlten Kupferfolien II. Entstehung der Agglomerate
4. The penetration of lattice defects in copper and gold foils bombarded with 1–5 keV argon ions
5. , , and , in: Application of Ion Beams to Metals, Ed. , and , Plenum Publ. Corp., New York 1974 (p. 507).
Cited by
8 articles.
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