Weak-beam contrast of stacking faults in transmission electron microscopy

Author:

Föll H.,Carter C. B.,Wilkens M.

Publisher

Wiley

Subject

Condensed Matter Physics,Electronic, Optical and Magnetic Materials,Condensed Matter Physics,Electronic, Optical and Magnetic Materials

Reference23 articles.

1. , , , and , Electron Microscopy of Thin Crystals, Butterworths, London 1965.

2. The Direct Observation of Dislocations, Academic Press, New York/London 1964.

3. Practical Electron Microscopy in Materials Science, Van Nostrand Co., New York 1976.

4. , , , and , Computed Electron Micrographs and Defect Identification, North-Holland Publ. Co., 1973.

5. Investigations of dislocation strain fields using weak beams

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