Measurements of the electron backscattering coefficient for quantitative EPMA in the energy range of 4 to 40 keV

Author:

Hunger H.-J.,Küchler L.

Publisher

Wiley

Subject

Condensed Matter Physics,Electronic, Optical and Magnetic Materials,Condensed Matter Physics,Electronic, Optical and Magnetic Materials

Reference14 articles.

1. in Mikrochim. Acta, Suppl. IV, 252 (1970).

2. A versatile atomic number correction for electron-probe microanalysis

3. Proc. 3. Internat. Symp. X-Ray Optics and Microanalysis, Stanford 1962, Academic Press, New York 1963 (p. 379).

4. and , Proc. 4. Internat. Congr. X-Ray Optics and Microanalysis, Orsay 1965, Hermann, Paris 1966 (p. 240).

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