Mass scale calibration of TOF-SIMS spectra with molecular ions of internal additives

Author:

Kobayashi Daisuke1,Aoyagi Satoka2,Otomo Shinya3,Itoh Hiroto4

Affiliation:

1. Innovative Technology Research Center; Asahi Glass Co., Ltd.; Kanagawa Japan

2. Department of Materials and Life Science; Seikei University; Tokyo Japan

3. Furukawa Electric Co., Ltd.; Tokyo Japan

4. Material Analysis Department; Konica Minolta, Inc.; Tokyo Japan

Publisher

Wiley

Subject

Materials Chemistry,Surfaces, Coatings and Films,Surfaces and Interfaces,Condensed Matter Physics,General Chemistry

同舟云学术

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