Neue Entwicklungen zur bildanalytischen Partikelgrößenanalyse im Mikron- und Submikron-Bereich
Author:
Publisher
Wiley
Subject
Industrial and Manufacturing Engineering,General Chemical Engineering,General Chemistry
Reference8 articles.
1. Fisher, C. 19
2. Wadlow, D. E.; Hopkins, B. M.; Gardner, G. M.; Fisher, C. 20
3. Schmeißer, H. 5
4. Schmeißer, H.
5. Gibbard, D. W.; Smith, D. J.; Wells, A. 20
Cited by 4 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献
1. Phasenkontrast-Rasterkraftmikroskopie für die Charakterisierung der Verteilung von Nanopartikeln in Verbundwerkstoffen. Phase-contrast Atomic Force Microscopy for the Characterization of the Distribution of Nanoparticles in Composite Materials;Chemie Ingenieur Technik;2010-11-03
2. Quantitative scanning electron microscopy using integrated digital image store for on-line image analysis;Scanning;1985
3. Erfahrungen mit dem Bildanalysegerät Quantimet 720 bei der Partikelgrößenmessung;Chemie Ingenieur Technik;1981
4. Die Bildanalyse als modernes Verfahren der Partikelmeßtechnik;Chemie Ingenieur Technik;1981
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