Siebanalysen mit 5- ?m-Mikrosieben

Author:

Colon F. J.

Publisher

Wiley

Subject

Industrial and Manufacturing Engineering,General Chemical Engineering,General Chemistry

Reference3 articles.

1. H. W. Daeschner et al., Vortrag beim ASTM-Symposium ?On Particle size measurement?, Boston/Mass. (USA), Juni 1958.

2. O. Lauer, Staub 20, Nr. 3, 69/71 [1960].

3. Siehe F. J. Colon u. J. de Vries: Deeltjesgrootte-analyse en de bij het C.T.I.-T.N.O. toegepaste methoden (Teilchengrößenanalyse und die beim C.T.I.-T.N.O. angewandten Methoden). T.N.O.-nieuws 16, 191/197, 251/254 [1961] und F. J. Colon, Microprecisiezeven voor zeefanalyse, ijking deeltjesgrootte-apparatuur en bereiding van fracties (Mikropräzisionssiebe für Siebanalyse, Eichung von Teilchengröße-Apparatur und Bereitung von Fraktionen). Bedrijf en Techniek 16, 393, 860, 862 [1961].

Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. An investigation of sieving in the presence of attrition;Powder Technology;1975-05

2. Literaturverzeichnis;Beitrag zur Bestimmung der spezifischen Oberfläche von Glaspulvern und deren Beziehung zu den aus der Korngrößenanalyse ermittelten statistischen Parametern;1966

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