Optische und elektrische Messungen an dünnen Thallium(III)-Oxydschichten-Reference-Cited by-同舟云学术

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Optische und elektrische Messungen an dünnen Thallium(III)-Oxydschichten

Published:1968 Issue:2 Volume:25 Page:741-751
ISSN:0370-1972
Container-title:Physica Status Solidi (b)
language:de
Short-container-title:Phys. Stat. Sol. (b)

Author:

Geserich H. P.

Publisher

Wiley

Subject

Condensed Matter Physics,Electronic, Optical and Magnetic Materials

Reference14 articles.

1. Elektrisches und optisches Verhalten von Halbleitern. XIII Messungen an Cd-, Tl- und Sn-Oxyden

2. Philips-Zentrallaboratorium Aachen, private Mitteilung.

3. und , wird demnächst veröffentlicht.

4. Universitätsinstitut für Kristallographie und Mineralogie, München, private Mitteilung.

5. Physik dünner Schichten, Bd. I, Wiss. Verlagsgesellschaft, Stuttgart 1950 (S. 154).

Cited by 14 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. High-performance optoelectronic and thermoelectric properties of transparent conductors based on Tl2O3 under pressure;Scientific Reports;2024-04-22

2. High-pressure structural and elastic properties of Tl2O3;Journal of Applied Physics;2014-10-07

3. Nature of the band gap ofTl2O3;Physical Review B;2011-06-09

4. Experimental and theoretical study of the electronic structure of HgO andTl2O3;Physical Review B;2005-06-22

5. Epitaxial electrodeposition of thallic oxide on single crystal gold;Electrochimica Acta;2000-06

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