SXM - Rastermikroskopien fürx-beliebige Oberflächeneigenschaften
Author:
Publisher
Wiley
Subject
General Medicine
Reference27 articles.
1. Surface Studies by Scanning Tunneling Microscopy
2. Strukturen - Farben - Kräfte: Wanderjahre der Raster-Tunnelmikroskopie
3. Atomare Bewegungen in der Tunnel- und Kraftmikroskopie
4. Three-dimensional stylus profilometry
5. Modern measurement techniques in surface metrology: part I; stylus instruments, electron microscopy and non-optical comparators
Cited by 3 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献
1. SXM-Methoden - nützliche Werkzeuge für die Praxis?;Physik Journal;1994-09
2. Literatur;Teubner Studienbücher Chemie;1994
3. Fundamentals and Special Applications of Non-Contact Scanning Force Microscopy;Advances in Electronics and Electron Physics Volume 87;1993
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