Microanalysis using secondary ion emission

Author:

Castaing Raimond1,Slodzian Georges1

Affiliation:

1. Laboratoire de Physique des Solides, Faculté des Sciences Orsay Essonnes France

Publisher

Wiley

Subject

Spectroscopy

Reference9 articles.

1. CastaingR. 1951.Application des sondes électroniques à une méthode d'analyse ponctuelle chimique et cristallographique. Thèse de Doctorat Paris O.N.E.R.A. éd. publ. no. 55.

2. CastaingR.&GuinierA. 1949.Application des sondes électroniques à l'analyse métallographique. Proc. Conf. on Elec. Microscopy Deft Martinus Nijhoff éd. La Haye 60‐63.

3. Micro-analysis by a Flying-Spot X-Ray Method

4. DuncumbP.&MelfordD.A. 1959.Design considerations of an X‐ray scanning microanalyser used mainly for metallurgical applications. Proc. of the Second International Symposium on X‐ray Microanalysis Stockholm Elsevier Publishing Co. Amsterdam 358‐364.

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