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Published:2016-12-20 Issue: Volume: Page:919-920
ISSN:
Container-title:European Microscopy Congress 2016: Proceedings
language:
Short-container-title:

Author:

Ewels Philip¹,Sikora Thierry²,Serin Virginie³,Ewels Chris P.⁴,Lajaunie Luc⁵

Affiliation:

1. Department of Biochemistry and Biophysics; Science for Life Laboratory, Stockholm University; Stockholm Suède

2. SAVANTIC; AB; Stockholm Suède

3. CEMES; Université de Toulouse; CNRS, Toulouse France

4. Institut des Matériaux Jean Rouxel (IMN); Université de Nantes; CNRS, Nantes France

5. Laboratorio de Microscopías Avanzadas; Instituto de Nanociencia de Aragón, Universidad de Zaragoza; Zaragoza Espagne

Publisher

Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA

Reference5 articles.

1. Structure analysis of aluminium silicon manganese nitride precipitates formed in grain-oriented electrical steels

2. Model-based determination of dielectric function by STEM low-loss EELS

3. DFT calculation of the electronic properties and EEL spectrum of NiSi2

同舟云学术

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