1. A high contrast directional detector for the scanning electron microscope;Banbury;J Phys E,1969
2. Der Informationsgehalt des Rückstreubildes im Rasterelektronenmikroskop;Blaschke;BEDO,1974
3. Rückstreukoeffizient und Sekundärelektronenausbeute von 10-100 keV Elektronen und Beziehungen zur Raster-Elektronenmikroskopie;Drescher;Z angew Phys,1970
4. Moll S H Healey F Sullivan B Johnson W A high efficiency, non-directional backscattered electron detection mode for SEM Scanning Electron Microscopy 1978/I SEM Inc AMF O'Hare 303 31