1. Sur les bases physiques de l'analyse ponctuelle par spectrographie X
2. In IV Congrès International sur l'Optique des Rayons X et la Microanalyse/4th ICXOM (Orsay, 1965), (eds). Hermann: Paris, 1966; 127-138.
3. In IV Congrès International sur l'Optique des Rayons X et la Microanalyse/4th ICXOM (Orsay, 1965), (eds). Hermann: Paris, 1966; 120-126.
4. Distribution in depth of the primary X-ray emission in anticathodes of titanium and lead
5. In Proceedings of the 6th International Conference on X-Ray Optics and Microanalysis 1971. University of Tokyo Press: Tokyo, 1972; 121-130.