Abstract
AbstractHerzog und Schlosser haben beobachtet, daß die Geschwindigkeit der Verbrennung von CO an NiO, dotiert mit Ga2O3, bei 300°C erheblich niedriger als an undotiertem NiO ist. Dieser Befund wird durch ein neues Modell gedeutet. Auf der Oberfläche von zusatzfreiem NiO sind nach Schlosser und Herzog Komplexe von adsorbierten O−‐Ionen und Ni3+‐Ionen auf normalen Kationenplätzen in der letzten Netzebene anzunehmen. Aufgrund der nachfolgenden theoretischen Analyse ist die Oberfläche von NiO, das mit Ga2O3 dotiert ist, vorzugsweise mit Komplexen von adsorbierten O−‐Ionen und Ga3+‐Ionen bedeckt. Bei Reaktion von CO mit dem letzteren Komplex muß das überschüssige Elektron des adsorbierten Sauerstoffions über mehrere Netzebenenabstände wandern, bevor eine Anlagerung an ein Ni3+‐Ion im Inneren möglich ist. Daher ist die Geschwindigkeit an NiO, das mit Ga2O3 dotiert ist, geringer als an zusatzfreiem NiO.
Subject
General Chemical Engineering