Introduction
Author:
Publisher
John Wiley & Sons Singapore Pte. Ltd
Reference92 articles.
1. Compliant Mechanisms
2. Enlarged atomic force microscopy scanning scope: Novel sample-holder device with millimeter range;Sinno;Rev. Sci. Instrum.,2007
3. Robust design of a novel three-axis fine stage for precision positioning in lithography;Lee;Proc. Inst. Mech. Eng. Part C-J. Mech. Eng. Sci.,2010
4. Control of a particular micro-macro positioning system applied to cell micromanipulation;Gauthier;IEEE Trans. Automat. Sci. Eng.,2006
1.学者识别学者识别
2.学术分析学术分析
3.人才评估人才评估
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