Reliability Of Nand Flash Memory

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Publisher

John Wiley & Sons, Inc.

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3. New device technologies for 5 V-only 4 Mb EEPROM with NAND structure cell;Momodomi;Electron Devices Meeting, 1988. IEDM ’88. Technical Digest, International,1988

4. Kirisawa , R. Aritome , S. Nakayama , R. Endoh , T. Shirota , R. Masuoka , F. 1990 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers 129 130 1990

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