Modifizierung von SiO2-Oberflächen mit Hilfe von Plasmen Teil I - EPR-spektroskopische Untersuchung der Defektzentren und der Einfluß des Plasmaträgergases auf deren Bildung-Reference-Cited by-同舟云学术

Modifizierung von SiO2-Oberflächen mit Hilfe von Plasmen Teil I - EPR-spektroskopische Untersuchung der Defektzentren und der Einfluß des Plasmaträgergases auf deren Bildung

Published:2010-09-01 Issue:4 Volume:14 Page:146-150
ISSN:0044-2402
Container-title:Zeitschrift für Chemie
language:en
Short-container-title:Z. Chem.

Author:

Meyer Klaus,Tiller Hans-Jürgen,Welz Elisabeth,Kühn Wolfgang

Publisher

Wiley

Subject

General Chemistry

Link

http://onlinelibrary.wiley.com/wol1/doi/10.1002/zfch.19740140405/fullpdf

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