High Temperature Corrosion on high temperature materials - Metallographic, scanning electron microscopic and microanalytical tests-Reference-Cited by-同舟云学术

High Temperature Corrosion on high temperature materials - Metallographic, scanning electron microscopic and microanalytical tests

Published:1982-10 Issue:10 Volume:13 Page:338-347
ISSN:0933-5137
Container-title:Materialwissenschaft und Werkstofftechnik
language:de
Short-container-title:Mat.-wiss. u. Werkstofftech.

Author:

Thien Volker,Voss Wolfgang,Schmitz Friedhelm

Publisher

Wiley

Subject

Mechanical Engineering,Mechanics of Materials,Condensed Matter Physics,General Materials Science

Reference70 articles.

1. VDI-Richtlinie 3822 Blatt 4, Entwurf 1980.

2. Studie Korrosion und Korrosionsschutz, Forschung und Entwicklung auf dem Gebiet der Korrosion und des Korrosionsschutzes, Dechema, Febr. 1973.

3. Conference High Temperature Alloys for Gas Turbins 1978. Edited by Applied Science Publishers.

4. Tagungshandbuch, Korrosionsforschung für die Praxis, Symposium über erste Ergebnisse des Forschungs- und Entwicklungsprogrammes «Korrosion und Korrosionsschutz» April 1977, Braunlage.

5. 1. Fortschreibung der Studie über Schwerpunkte in Forschung und Entwicklung auf dem Gebiet der Korrosion und des Korrosionsschutzes, Dechema, Dez. 1979.

Cited by 7 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Influence of sulphidation and carburisation on creep;Materials Science and Technology;1990-01

2. The role of the interaction of corrosion and mechanical factors for the degradation of materials;Materials Science and Engineering: A;1989-12

3. High temperature corrosion behaviour of M(Co, Ni)CrAIY-coatings on high temperature materials-microanalytical investigations;Mikrochimica Acta;1987-01

4. Effect of environment on mechanical properties of coated superalloys and gas turbine blades;Materials Science and Technology;1986-03

5. Auger-Elektronen-Mikroanalyse Grundlagen und Anwendungen;Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie;1986