Mechanism Analysis and Experimental Verification of IGBT Avalanche Breakdown
Author:
Affiliation:
1. Mechanical and Electrical Engineering, Wuhan Donghu University, Wuhan, China
Publisher
ACM
Link
https://dl.acm.org/doi/pdf/10.1145/3443467.3443865
Reference5 articles.
1. Lifetime prediction and design of reliability tests for high-power devices in automotive applications
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3. Analysis calculate and countermeasure of over-voltage and over-heat of high power IGBT[J];Lu Guangxiang;Power Electronics,2006
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