Abstract
Предложена методика анализа структуры нанопористых матриц, основанная на компьютерном моделировании спектров пропускания путем стохастического анализа рассеяния волн с введением корреляционной функции случайных неоднородностей. Методика правильно описывает изменения пропускания нанопористых образцов в видимой области и ближнем ИК-диапазоне.
Subject
Industrial and Manufacturing Engineering,Materials Science (miscellaneous),Business and International Management