Abstract
Hızla gelişen teknolojik gelişmeler, birçok karmaşık yapıya sahip sistemlerin ortaya çıkmasına neden olmuştur. Ortaya çıkan bu sistemler, hem karmaşık yapıda hem de yüksek boyutlu bileşenlerden oluştuğu için bu sistemlerin tam güvenilirliklerini hesaplamak her zaman kolay olmamaktadır. Tam güvenilirlik değerlerinin hesaplanması zor ya da mümkün olmayan bu sistemlerin güvenilirliklerinin belirlenmesi için araştırmacılar, güvenilirlik sınırları kavramını geliştirmişlerdir. Bu çalışmada, ardıl-k sistemler olarak bilinen n-den ardıl k-çıkışlı sistemler için önerilen sınır yaklaşım yöntemlerinin karşılaştırılması amaçlanmıştır. Bu doğrultuda hem söz konusu sistemleri oluşturan bileşenlerin diziliş şekillerine göre doğrusal ve dairesel olarak hem de başarılı ve hatalı olma durumlarına göre adlandırılan sistemler incelenmiştir. Önerilen yöntemlerin belli n, k ve p (q) değerleri için elde edilen sonuçları, tam güvenilirlik değerleriyle karşılaştırılarak tablolar halinde verilmiştir. Buradan elde edilen sonuçlardan güvenilirlik sınırlarının ne kadar doğru olduğu, sadece n ve k değerlerine bağlı olmayıp aynı zamanda p’nin seçildiği aralığa da bağlı olduğu belirlenmiştir.
Funder
İnönü Üniversitesi Bilimsel Araştırma Projeleri Birimi
Publisher
Bitlis Eren Universitesi Fen Bilimleri Dergisi
Reference38 articles.
1. [1] Kuo, W., Zuo, M. J. 2003. Optimal Reliability Modeling: Princeples and Applications. New Jersey: John Wiley & Sons, Inc., 1-544.
2. [2] Tong, Y. L. 1985. A Rearrangement Inequality for the Longest Run, With an Application to Network Reliability. Journal of Applied Probability, 22(2), 386-393.
3. [3] Kuo, W., Zhang, W., Zuo, M. 1990. A Consecutive-k-out-of-n:G System: The Mirror Image of a Consecutive-k-out-of-n:F System. IEEE Transactions on Reliability, 39(2), 244-253.
4. [4] Kontoleon, J. M. 1980. Reliability determination of a r-successive-out-of-n: F system. IEEE Transactions on Reliability, 29(5), 437-437.
5. [5] Chiang, D. T., Niu, S. C. 1981. Reliability of consecutive-k-out-of-n: F system. IEEE Transactions on Reliability, 30(1), 87-89.