Noncontact Atomic Force Microscopy. To What Extent Can We Observe Semiconductor Surfaces Using NC-AFM?
Author:
Affiliation:
1. Department of Electronic Engineering, Graduate School of Engineering, Osaka University
Publisher
Surface Science Society Japan
Subject
General Earth and Planetary Sciences,General Engineering,General Environmental Science
Link
http://www.jstage.jst.go.jp/article/jsssj/23/3/23_3_132/_pdf
Reference10 articles.
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1. Atom Manipulation on Si and Ge Surfaces using Atomic Force Microscope;Hyomen Kagaku;2005
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